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    型號:
    更新日期:2023-11-16
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    型號:
    更新日期:2023-11-16
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    型號:
    更新日期:2023-11-21
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    型號:
    更新日期:2023-11-15
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  • 美國Agilent4284A精密LCR測試儀

    的測試方法來改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測頻范圍 和優(yōu)良的測試信號,使4284A在測試元件時(shí)符合Z通行的測試標(biāo)準(zhǔn)如IECMIL標(biāo)準(zhǔn)(電工委員會(huì)或美國軍用標(biāo)準(zhǔn)),且工作在 模擬所使用的工作條件下。無論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn),4284A都能滿足全部LCR測量要求。

    型號:
    更新日期:2023-11-15
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  • Agilent4287A射頻測試儀

    Agilent4287A射頻測試儀在1MHz~3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量,以改進(jìn)生產(chǎn)線上對電子元件進(jìn)行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測量技術(shù)不同,采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測量。 技術(shù)指標(biāo) 測量參數(shù):|Z|,|Y|,L,C, R,D, Q, X,G,B,θ 測量電路形式:串聯(lián)和并聯(lián) 工作頻率:1 MHz~3 GHz 頻率分辨率:10 kHz

    型號:
    更新日期:2023-11-17
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